
儀器的基本信息:
儀器名稱:掃描電子顯微鏡
英文名稱:Scanning Electron Microscope
型 號:Quanta250
制 造 商:FEI捷克有限公司
產 地:捷克
購買年份:2011年
存放地點:公共實驗平臺
管理人員:陳麗
聯系電話:027-87700819
儀器簡介:
掃描電鏡一種新型的電子光學儀器。它具有制樣簡單、放大倍數可調范圍寬、圖像的分辨率高、景深大等特點。數十年來,掃描電鏡已廣泛地應用在生物學、醫學、冶金學等學科的領域中,促進了各有關學科的發展。
儀器的用途:
分析樣品的微觀結構
儀器的技術參數:
1. 真空系統:
抽真空時間:高真空模式<3分鐘
低真空模式<3分鐘
環境真空模式<4.5分鐘
換樣時間:高真空模式<150秒。
2. 放大倍數: X、Y方向<3%(采用放大倍數校驗標樣2160lines/mm。20000倍,20KV,工作距離10mm下,掃描旋轉0度和90度),在10倍和90萬倍能清晰看到掃描圖像。
3. 分辨率:30KV分辨率,高真空模式、低真空模式和環境真空模式3.0nm(工作距離約5mm,放大倍數100,000x)。
二次電子成像:高真空模式:30KV時3.0nm;3kv時8.0nm
低真空模式:30KV時3.0nm;3kv時10.0nm
ESEM環境真空模式:30KV時3.0nm
背散射電子:30KV時4.0nm
4. 功能測試:低真空模式功能
高真空模式功能
環境真空模式