• <tbody id="79f28"></tbody>
    1. 
      
      1. <progress id="79f28"></progress>
      2. <samp id="79f28"><ins id="79f28"></ins></samp>
      3. <menuitem id="79f28"><strong id="79f28"><u id="79f28"></u></strong></menuitem>
        <track id="79f28"><nobr id="79f28"></nobr></track>
          1. 本網首頁平臺簡介儀器列表管理制度相關下載平臺動態通知公告常見問題聯系我們儀器預約
              您的位置:首頁>儀器列表
            掃描電子顯微鏡
            發布時間:2013-03-14 來源: 【字號:  

              

            儀器的基本信息:

              儀器名稱:掃描電子顯微鏡

              英文名稱:Scanning Electron Microscope

              型   號:Quanta250

              制 造 商:FEI捷克有限公司  

              產   地:捷克

              購買年份:2011年

              存放地點:公共實驗平臺

              管理人員:陳麗

              聯系電話:027-87700819

              儀器簡介:

              掃描電鏡一種新型的電子光學儀器。它具有制樣簡單、放大倍數可調范圍寬、圖像的分辨率高、景深大等特點。數十年來,掃描電鏡已廣泛地應用在生物學、醫學、冶金學等學科的領域中,促進了各有關學科的發展。

              儀器的用途:

              分析樣品的微觀結構

              儀器的技術參數:

              1. 真空系統:

              抽真空時間:高真空模式<3分鐘

              低真空模式<3分鐘

              環境真空模式<4.5分鐘

              換樣時間:高真空模式<150秒。

              2. 放大倍數: X、Y方向<3%(采用放大倍數校驗標樣2160lines/mm。20000倍,20KV,工作距離10mm下,掃描旋轉0度和90度),在10倍和90萬倍能清晰看到掃描圖像。

              3. 分辨率:30KV分辨率,高真空模式、低真空模式和環境真空模式3.0nm(工作距離約5mm,放大倍數100,000x)。

              二次電子成像:高真空模式:30KV時3.0nm;3kv時8.0nm

              低真空模式:30KV時3.0nm;3kv時10.0nm

              ESEM環境真空模式:30KV時3.0nm

              背散射電子:30KV時4.0nm

              4. 功能測試:低真空模式功能

              高真空模式功能

              環境真空模式

              

            文檔附件:
            關閉頁面
            © 2010 - 中國科學院武漢植物園 版權所有 備案序號:鄂ICP備05004779號 地址:武漢市東湖新技術開發區九峰一路201號 郵編:430074
            国产日韩久久久久精品